本帖最后由 zhangyb 于 2024-1-2 11:27 编辑
九阳项目中,测试辐射干扰应用中收集。 3.1、晶振回路的设计晶振的XI、XO接1~2MΩ的电阻,同时XO输出端可预留600RH的磁珠到GND;另外,晶振的拜访布局尽量靠近MCU,离板框的距离超过5mm。对辐射干扰起到一定的作用。
3.2、TFT-LCD接口要求在设计中,RGB数据、Hsync、Vsync、PCLK、DE等信号线建议预留串接22~33欧姆,起到一定抗干扰辐射作用。同时,根据产品应用的需求,也可增加ESD的处理。如下图所示 3.3、SD卡的设计SD卡的CLK端口可以串接33Ω电阻,以降低辐射干扰。
3.4、外挂SPI-FLASH SD卡的CLK端口可以串接33Ω电阻,以降低辐射干扰。
3.5、触摸接口 触摸接口一般为I2C通讯方式,建议I2C数据线上串接33Ω电阻,以降低辐射干扰。
3.6、背光驱动 3.6.1 背光电路可参考如下,其中R29、C33作为吸收回路,对辐射干扰起到一定作用;PIN6-VIN串接10Ω电阻,以防止ESD引起电压反串到升压芯片 3.6.2 屏驱背光升压电路二极管发烫问题 现 象:客户多知技术反馈不接屏上电,D3发热严重,电路如下图。 分析与解决:不接屏时,升压芯片因为是恒流,可能会烧坏,加上D3后,可以保护升压芯片不会烧坏但稳压管D3 可能会发烫,所以D3要尽量用大功率的封装如SMA,也可以先接屏后上电。 3.7、导电胶布释放干扰的处理在设计PCB时,可在TFTLCD模组连接器的附近预留接地焊盘,应用导电胶布将TFTLCD模组、连接器进行连接后接入设计好的接地焊盘,对来自TFTLCD模组的干扰起到一定的释放。
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