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EFT干扰测试或ESD验证

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发表于 2024-1-2 11:10:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
4.1、在EFT干扰测试或ESD验证时,电源电压输出有尖峰,会损坏MCU,处理方案     --Yinfc 2023-4-17
方案1:串10uH----1mH电感,接成CLC方案,即电感两端并电容(电容容值建议至少在10uF---100uF);
并且在前面的电容上并接3.3V的双向TVS管;
方案2:在 3.3V和地之间,进MCU前,串入贴片共模电感,参考型号:TLDCM7978-2-501TF
两端也并电容10uF---100uF,电源对地并接3.3V TVS管
方案3: 改善供电的电路,比如DCDC画板或选取参数时,避开干扰;LDO可以选择好的品牌或更换为DCDC稳压,在DCDC或LDO输入前串入绕线电感
一般前2个方案就能解决了,串入电感主要作用就是在电源输入端电压突变时,电感两端电压不能突变,同时用电容辅助,平滑吸收尖峰电压

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