EFT干扰测试或ESD验证

zhangyb

4.1、在EFT干扰测试或ESD验证时，电源电压输出有尖峰，会损坏MCU，处理方案     --Yinfc 2023-4-17

方案1：串10uH----1mH电感，接成CLC方案，即电感两端并电容（电容容值建议至少在10uF---100uF）；

并且在前面的电容上并接3.3V的双向TVS管；

方案2：在 3.3V和地之间，进MCU前，串入贴片共模电感，参考型号：TLDCM7978-2-501TF

两端也并电容10uF---100uF，电源对地并接3.3V TVS管

方案3： 改善供电的电路，比如DCDC画板或选取参数时，避开干扰；LDO可以选择好的品牌或更换为DCDC稳压，在DCDC或LDO输入前串入绕线电感

一般前2个方案就能解决了，串入电感主要作用就是在电源输入端电压突变时，电感两端电压不能突变，同时用电容辅助，平滑吸收尖峰电压